蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價：面議
蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡性價比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分...
蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡 參考價：面議
蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結(jié)合在一起， 同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， ...
蔡司 GeminiSEM系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價：面議
蔡司 GeminiSEM系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以滿足您的需求。創(chuàng)新的電...
蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab 參考價：面議
蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab集鎵、氖、氦三種離子束于一身，是能實現(xiàn)從微米到納米微加工的成像加工系統(tǒng)。
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM) 參考價：面議
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM)結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能...
原位拉伸-掃描電鏡 參考價：面議
ZEM15原位拉伸掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化產(chǎn)品介紹ZEM15原位...
PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量 參考價：面議
PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統(tǒng)，將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實驗樣品原位...
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機(jī) 參考價：面議
澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式oxford能...
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價：面議
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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